Dependence of Thermal Annealing on the Density Distribution of Interface States In Ti/n-GaAs(Te) Schottky Diodes
AYYILDIZ E.
Appl. Surf. Sci., cilt.152, ss.57-62, 1999 (SCI-Expanded)
-
Yayın Türü:
Makale / Tam Makale
-
Cilt numarası:
152
-
Basım Tarihi:
1999
-
Dergi Adı:
Appl. Surf. Sci.
-
Derginin Tarandığı İndeksler:
Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
-
Sayfa Sayıları:
ss.57-62
-
Erciyes Üniversitesi Adresli:
Hayır