Dependence of Thermal Annealing on the Density Distribution of Interface States In Ti/n-GaAs(Te) Schottky Diodes
Appl. Surf. Sci., cilt.152, ss.57-62, 1999 (SCI-Expanded)
- Yayın Türü: Makale / Tam Makale
- Cilt numarası: 152
- Basım Tarihi: 1999
- Dergi Adı: Appl. Surf. Sci.
- Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
- Sayfa Sayıları: ss.57-62
- Erciyes Üniversitesi Adresli: Hayır