Akademik Veri Yönetim Sistemi
Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Erciyes Üniversitesi, Fen Fakültesi, Fizik, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2006
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: Hatice YILDIZ
Danışman: Sema Yıldırım
Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
Özet:Seramik ve porselenden yapılmış eşyaları günlük yaşantımızda çok sık kullanmaktayız. Seramik ve porselenin yanı sıra fayans, çimento, cam, kiremit, tuğla drenaj boruları, çömlek, zımpara taşları, ferroelektrikler, ametal manyetikler, sentetik tek kristaller ve uzay roket seramikleri de bu grup içinde yer almaktadır. Seramik malzemeler metalorji, inşaat, makine, elektrik, elektronik, enerji, telekominikasyon gibi bilim ve endüstri alanlarında kullanılmaktadır. Özellikle gelişen teknolojilerin getirdiği tasarım kolaylığıyla arzu edilen niteliklere sahip kritik seramik malzeme oluşturulması en önemlileri bilgisayar, iletişim, elektronik ve mikro elektronik gibi dallarda yeni teknolojiler gelişmesine yol açmıştır. Bu çalışmada, X-ışını toz kırınım yöntemi ile bazı seramik ve porselenlerin nitel analizi yapıldı. Numunelerin kırınım desenleri RIGAKU marka D/Max-2200/PC model toz difraktometre sisteminde ve bakır radyasyonu (? (CuK?) = 1.54056 Å ) kullanılarak alındı. Toz kırınım desenlerinden elde edilen veriler değerlendirilerek, örneklerin yapılarına giren maddeler nitel olarak tayin edildi. Analizin sonucunda örneklerde; Kaolinit Al4(OH)8(Si4O10), Dikit Al2Si2O5(OH)4, Nakrit Al2Si2O5(OH)4 ve 2M2Al2Si2O5(OH)4, Albit Na(AlSi3O8), Kuvars SiO2, Sepiyolit Mg8(OH)4Si12O30(H2O)12, Mullit Al(Al1.272Si0.728O4.864) ve Al5SiO9.5, Moganit SiO2 gibi maddelerin yer aldığı saptanmıştır.. Anahtar Kelimeler: Seramik, Porselen, Kristal yapı analizi, X-ışını toz kırınım yöntemi.