Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and It’s Application in Textile Industry


DOĞAN M., SOYLAK M., ELÇİ L., bohlen a. v.

Colloquium Spectroscopium Internationale XXXI, Johannesburg, Güney Afrika, 8 - 13 Temmuz 2001, ss.0-2

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Johannesburg
  • Basıldığı Ülke: Güney Afrika
  • Sayfa Sayıları: ss.0-2
  • Erciyes Üniversitesi Adresli: Evet