Kimyasal biriktirme yöntemi ile elde edilen SnS ince filmlerin XRD, SEM ve optiksel olarak incelenmesi

Göde F., GÜNERİ E., Yavuz F., Gümüş C., Çevik S.

Adım Fizik Günleri-II, Denizli, Türkiye, 1 - 04 Nisan 2012, ss.58-59

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Denizli
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.58-59
  • Erciyes Üniversitesi Adresli: Evet