Tekil Değer Ayrışımı Tabanlı Yeni Bir Kırılgan Resim Damgalama

ASLANTAŞ V., Doğru M.

IV Ağ ve Bilgi Güvenliği Sempozyumu, Ankara, Türkiye, 25 - 26 Kasım 2011

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Erciyes Üniversitesi Adresli: Evet