A NEW METHOD FOR MEASURING MECHANICAL PROPERTIES OF THIN FILMS


Demirel B.

Patent, BÖLÜM C Kimya; Metalürji, Buluşun Başvuru Numarası: - , Standart Tescil, 2020, Başvuru Yapıldı

  • Fikri Mülkiyet: Patent
  • Başvuru Yapılan Ülke/Kuruluş: Türkiye
  • Buluşun Durumu: Başvuru Yapıldı
  • Başvuru Tarihi: 1.08.2020